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產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀
根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置,它可以測量棒狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴散層的薄層電阻進行測量,可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。
詳情介紹:
SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀簡介
SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置,它可以測量棒狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴散層的薄層電阻進行測量,可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。
儀器為臺式結(jié)構(gòu),分為電氣箱、測試架兩大部分,用戶可以根據(jù)測試需要安放在一般工作臺或者專用工作臺上,測試架由探頭及壓力傳動機構(gòu)、樣品架組成,耐磨和使用壽命長的特點。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧壓力裝置,壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào),測試架設(shè)有手動和電動兩種裝置供用戶選購。
儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的恒流源組成,測量結(jié)果由數(shù)字直接顯示,儀器有自校量程,可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點,儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科學(xué)研究部門、高等院校,對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試及工藝檢測。
儀器主要技術(shù)指標(biāo):
1. 范圍:電阻率10-4—103Ω—cm,可擴展至105Ω—cm,分辯率為10-6Ω—cm
方塊電阻10-3—103Ω /□
電阻10-6—105Ω
2. 可測半導(dǎo)體尺寸:直徑Φ15—150mm
3. 測量方式:軸向、斷面均可(手動測試架)
4. 數(shù)字電壓表(1)量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)測量誤差 0.2mV檔±(0.3%讀數(shù)+8字)
2 mV檔以上±(0.3%讀數(shù)+2字)
(3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω
20mV檔以上>108Ω
(4)顯示3 1/2位數(shù)字顯示,0—1999
具有極性和過載自動顯示,小數(shù)點、單位自動顯示
5. 恒流源:(1)電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給
(2)量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔
(3)電流誤差:±(0.3%讀數(shù)+2字)
6.四探針測試探頭 (1)探頭間距:1mm (2)探針機械游率:±0.3%
(3) 探針:Φ0.5mm (4)壓力:可調(diào)
7.測試架:
(1)手動測試架:探頭上升及下降由手動操作,可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。
(2)電動測試架:探頭的上升和下降由電動操作,設(shè)有自動控制器控制,探頭上升時間1S—99S可調(diào),探頭下降時間1S—99S可調(diào),壓力恒定可調(diào)(由砝碼來設(shè)定)同時設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開關(guān)控制探頭上下運動。
8.電流:220V±10% 50HZ或60HZ:功率消耗<35W
9. 外形尺寸:電氣箱130×110×400mm