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簡單介紹:
XJ4810A型半導體管特性圖示儀采用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線,并測量其靜態(tài)參數(shù)。本儀器具有二簇曲線顯示,雙向集電極掃描電路,可以對被測半導體器件的特司長進行對比分析,便于對管或配件配對。本儀器IR測量達200nA/div,配備擴展裝置后,VC可達3KV;可測試CMOS及TTL門電路傳輸特性;可對場效應管進行配對或對管測試;可測試三端穩(wěn)壓管特性。
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